問(wèn)題描述

本測(cè)試是HUAWEIOSN2500-TraverseEoSDH的對(duì)接測(cè)試。通過(guò)tester發(fā)送64Byte報(bào)文，測(cè)試CAR屬性的時(shí)候發(fā)現(xiàn)：

N4EFS0板：當(dāng)RateLimit設(shè)置為45M，綁定1個(gè)VC3時(shí)，Tester測(cè)試結(jié)果為34.04，偏小，不正常；

N3EGS4板：當(dāng)RateLimit設(shè)置為800M，綁定6個(gè)VC4時(shí)，Tester測(cè)試結(jié)果為582.02，偏小，不正常。

處理過(guò)程

原因一：通過(guò)查詢發(fā)現(xiàn)兩個(gè)板子所采用的芯片不一樣，從而導(dǎo)致在換算的過(guò)程中：

N4EFS0采用1M=1000K,如限速為45M的情況下，理論上在網(wǎng)管上設(shè)置其值為：45000k,因?yàn)樵O(shè)置顆粒需為64倍數(shù)，否則無(wú)法下發(fā)，所以設(shè)置為44992k。

N3EGS4采用1M=1024K,如限速為800M的情況下，理論上在網(wǎng)管上設(shè)置其值為：781250k,同樣設(shè)置顆粒需為64倍數(shù)，設(shè)置為781248。

原因二：通過(guò)分析對(duì)接方Tester統(tǒng)計(jì)實(shí)現(xiàn)原理，我司CAR值中已經(jīng)將IFG和PA值包括在內(nèi),共20Byte,而對(duì)接方Tester統(tǒng)計(jì)是進(jìn)行了過(guò)濾，不包括IFG+PA值，所以需要重新進(jìn)行算換。

換算結(jié)果測(cè)試如下：

N4EFS0板：當(dāng)RateLimit設(shè)置為45M，綁定1個(gè)VC3時(shí)，Tester測(cè)試結(jié)果為，34.04*（64+20）/64=44.68,正常；

N3EGS4板：當(dāng)RateLimit設(shè)置為800M，綁定6個(gè)VC4時(shí)，Tester測(cè)試結(jié)果為582.02*（64+20）/64=763.90,正常。

根因

首先考慮是不是單板本身在CAR的實(shí)現(xiàn)上存在區(qū)別；

其次考慮對(duì)接方Tester統(tǒng)計(jì)的實(shí)現(xiàn)方式；

建議與總結(jié)

不同的數(shù)據(jù)單板的CAR功能的實(shí)現(xiàn)根據(jù)硬件使用的芯片有關(guān)，是芯片實(shí)現(xiàn)的。不同的板卡甚至同一類板卡中不同的型號(hào)有可能不一樣，具體需要看使用板卡的硬件芯片類型。